金属半导体接触

金属半导体接触
130312601
E.H.罗德里克

O47
科学出版社
1984-06
1984
1984
本书为金属半导体接触方面的专著，主要介绍一些金属与常用半导体锗、硅、砷化镓等Ⅲ-Ⅴ族化合物之间肖特基势垒和欧姆接触的形成，势垒中的电流输运机理和势垒电容的性质，以及势垒高度等重要参数的测量方法．本书综合了近十年来的大量实验结果，并与各种理论模型进行了比较．对实际接触中通常出现的问