半导体异质结构与纳米结构表征英文影印版

半导体异质结构与纳米结构表征英文影印版
9787030269690
Carlo Lamberti

TN304
科学出版社
2010-03
2010
2010
本书主要讨论了用于确定半导体量子阱和超晶格结构性质 (结构、物理, 化学、电气等) 的专门表征技术。此外, 介绍了采用第一原理进行的模拟、建模方法, 以及异质结构的电学与光学特性。本书结构基于双重目标: 以物理、化学, 材料科学、工程学和纳米技术领域的本科生与研究生能够理解的程度