电子元器件可靠性设计 9787030196385 王蕴辉,于宗光,孙再吉主编 电子可靠性工程技术实践丛书 TN602 科学出版社 2007-09 2007 2007 本书内容有:单片集成电路可靠性设计,混合集成电路可靠性设计与控制,半导体分立器件可靠性设计,连接器可靠性设计,继电器可靠性设计等。
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