电子元器件可靠性设计
9787030196385
王蕴辉,于宗光,孙再吉主编
电子可靠性工程技术实践丛书
TN602
科学出版社
2007-09
2007
2007
本书内容有:单片集成电路可靠性设计,混合集成电路可靠性设计与控制,半导体分立器件可靠性设计,连接器可靠性设计,继电器可靠性设计等。

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