半导体存储器及其测试

半导体存储器及其测试
15031289
林雨著

TP333.5
科学出版社
1980-08
1980
1980
本书系统地介绍了半导体存储器的工作原理、电路结构、测试方法以及半导体存储器测试设备的工作原理与结构。对于各种类型的MOS存储器、双极存储器和在研制存储器测试设备中所涉及的数/模与模/数变换技术、计算机技术均作了适当的介绍。 书中较仔细地分析了目前正在研制的几种半导