测度值分枝过程引论 《测度值分枝过程引论》,作者:赵学雷著 出版社:科学出版社 ISBN:703007422X。本书阐述测度值分枝过程的基本理论，系统介绍超过程的几种构造、研究的思想方法以及超扩散过程在非线性偏微分方程中的应用。论述底过程、分枝率和分枝机制对超过程性质的联合作用。 壹号书单 2000年01月01日 0 点赞 0 评论 16 浏览
