数字集成电路测试优化 : 测试压缩、测试功耗优化、测试调度
《数字集成电路测试优化 : 测试压缩、测试功耗优化、测试调度》,作者:李晓维[等]著 出版社:科学出版社 ISBN:9787030278944。本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测
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