半导体存储器及其测试
《半导体存储器及其测试》,作者:林雨著 出版社:科学出版社 ISBN:15031289。本书系统地介绍了半导体存储器的工作原理、电路结构、测试方法以及半导体存储器测试设备的工作原理与结构。对于各种类型的MOS存储器、双极存储器和在研制存储器测试设备中所涉及的数/模与模/数变换技术、计算机技术均作了适当的介绍。 书中较仔细地分析了目前正在研制的几种半导
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