电子元器件可靠性设计 《电子元器件可靠性设计》,作者:王蕴辉，于宗光，孙再吉主编 出版社:科学出版社 ISBN:9787030196385。本书内容有：单片集成电路可靠性设计，混合集成电路可靠性设计与控制，半导体分立器件可靠性设计，连接器可靠性设计，继电器可靠性设计等。 壹号书单 2007年09月01日 0 点赞 0 评论 18 浏览
