数字集成电路容错设计 : 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误
《数字集成电路容错设计 : 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误》,作者:李晓维[等]著 出版社:科学出版社 ISBN:9787030305763。本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面：容缺陷（和故障）、容参数偏差以及容软错误；包括3S技术（自测试、自诊断、自修复）的基本原理。
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