微纳米MOS器件可靠性与失效机理 《微纳米MOS器件可靠性与失效机理》,作者:郝跃，刘红侠著 出版社:科学出版社 ISBN:9787030205865。本书主要介绍了微纳米MOS器件的失效机理与可靠性理论，目的是在微电子器件可靠性理论和微电子器件的设计与应用之间建立联系，阐述微纳米MOS器件的主要可靠性问题和系统的解决方法。 壹号书单 2008年03月01日 0 点赞 0 评论 20 浏览
