半导体的检测与分析 | 2版 《半导体的检测与分析 | 2版》,作者:许振嘉主编 出版社:科学出版社 ISBN:9787030194626。本书共分7章。内容包括：引论，半导体的高分辨X射线衍射，光学监测与分析，表面、薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征等。 壹号书单 2007年08月01日 0 点赞 0 评论 9 浏览
