微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统 : interconnects, devices and systems
《微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统 : interconnects, devices and systems》,作者:(瑞典)刘建影(Johan Liu)[等]著；郭福，马立民译 出版社:科学出版社 ISBN:9787030376060。本书介绍了电子互连系统中可靠性的诸多基础科学问题及测试和解决方案，书中首先描述了微电子技术可靠性问题的重要性和定义，然后分别从经验模型、物理模型以及失效的
