纳米薄膜分析基础 : [英文本] | Fundamentals of nanoscale film analysis影印版
《纳米薄膜分析基础 : [英文本] | Fundamentals of nanoscale film analysis影印版》,作者:T. L. Alford,L. C. Feldman,J. W. Mayer[编著] 出版社:科学出版社 ISBN:9787030222596。本书主要研究了材料表面及从表面到几十乃至100纳米深的结构与构成。主要讨论了用入射粒子和光子来量化结构并进行成分和深度
