李锦林
半导体器件及电路的可靠性与退化
《半导体器件及电路的可靠性与退化》,作者:(英)豪斯(M.J.Howes),(英)摩根(D.V.Morgan)主编;李锦林等译 出版社:科学出版社 ISBN:7030011643。本书阐述了用硅、砷化镓及磷化铟等材料制作的双极型晶体管、场效应晶体管、发光二极管、半导体激光器,以及微波集成电路等各种半导体器件及电路的可靠性和退化问题,并且综述了半导体材料和器件的失效机理(其中包括金属间的固态扩散、电
