光刻机像质检测技术(下册) 《光刻机像质检测技术(下册)》,作者:王向朝等 著 出版社:科学出版社 ISBN:9787030673558。光刻机像质检测技术是支撑光刻机整机与分系统满足光刻机分辨率、套刻精度等性能指标要求的关键技术。本书系统地介绍了光刻机像质检测技术。介绍了国际主流的光刻机像质检测技术,详细介绍了本团队提出的系列新技术,涵盖了光刻胶曝光法、空间像测量法、干涉测量法等检测技术,包括初级像质参数、波像差、偏振像差 壹号书单 2021年03月01日 0 点赞 0 评论 72 浏览
集成电路与光刻机 《集成电路与光刻机》,作者:王向朝等 著 出版社:科学出版社 ISBN:9787030657923。光刻机是集成电路制造的核心装备,直接决定了集成电路的微细化水平。本书介绍了集成电路与光刻机的发展历程;重点介绍了光刻机整机、分系统与曝光光源的主要功能、基本结构、工作原理、关键技术等;简要介绍了计算光刻技术;最后介绍了光刻机成像质量的提升与光刻机整机、分系统的技术进步。 壹号书单 2020年08月01日 0 点赞 0 评论 140 浏览
光刻机像质检测技术(上册) 《光刻机像质检测技术(上册)》,作者:王向朝等 著 出版社:科学出版社 ISBN:9787030673541。光刻机像质检测技术是支撑光刻机整机与分系统满足光刻机分辨率、套刻精度等性能指标要求的关键技术。本书系统地介绍了光刻机像质检测技术。介绍了国际主流的光刻机像质检测技术,详细介绍了本团队提出的系列新技术,涵盖了光刻胶曝光法、空间像测量法、干涉测量法等检测技术,包括初级像质参数、波像差、偏振像差 壹号书单 2021年03月01日 0 点赞 0 评论 261 浏览